M&M 2019丨TESCAN CLARA 即將發(fā)布

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發(fā)表時(shí)間:2019-08-02 18:08

201985~ 8日,“M&M 2019”M&M, Microscopy andMicroanalysis)將在美國(guó)俄勒岡州波特蘭市召開,TESCAN作為電子顯微鏡行業(yè)的全球供應(yīng)商,應(yīng)邀參加了本次盛會(huì)。

M&M是由美國(guó)顯微學(xué)會(huì)MSAMicroscopy Society ofAmerica)主辦的全球最大的顯微技術(shù)和分析科學(xué)大會(huì),是一年一度的盛會(huì)。

本次大會(huì)上,TESCAN將攜多款掃描電鏡和聚焦離子束系統(tǒng)(S9000X,S8000GVEGA3)亮相M&M 2019。同時(shí),TESCAN將隆重發(fā)布一款最新的超高分辨熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡TESCAN CLARA!


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M&M 2019 上TESCAN公司展示儀器


TESCAN的展位號(hào)為#1108,我們歡迎您前來參觀和咨詢,TESCAN的設(shè)備在展會(huì)期間會(huì)進(jìn)行公開展示和演示。今年,您也可以在Oxford公司(#915展位)上和EDAX公司(#428展位)上尋覓到TESCAN 公司MIRA3電鏡的身影。

如果您想了解更多的信息,歡迎您于5-7日蒞臨TESCAN展位,我們的科學(xué)家們?yōu)槟鷰砹?/span>前沿顯微技術(shù)與應(yīng)用講座,內(nèi)容將涉及最新的TESCANCLARAmicro-CT,Cryo-FIB-SEM,FIB-SEM,S8000X以及在材料和半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用等。

值得一提的是,M&M大會(huì)報(bào)告日程上將有我們兩個(gè)報(bào)告。

1、85日(周一)下午14:00點(diǎn),Dr Dean Miller會(huì)為您介紹如何利用集成了RamanTOF-SIMSFIB-SEM系統(tǒng)對(duì)鋰電池電極的異質(zhì)性的研究。

286日(周二)Arno Merkle將介紹如何在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行時(shí)間分辨動(dòng)態(tài)CT成像。



展會(huì)日期:201985~ 8

展會(huì)地點(diǎn):美國(guó)·俄勒岡州·波特蘭市   

歡迎前去參展的各種專家學(xué)者蒞臨TESCAN BOOTH #1108 參觀交流!


更多詳情,請(qǐng)關(guān)注 https://2019mm.splashthat.com/