電子顯微技術(shù)是人類直觀觀察微觀世界的重要手段，電鏡在材料、物理、化學(xué)、冶金、生物、醫(yī)學(xué)等學(xué)科的研究工作中已成為不可替代的重要工具。        原位電鏡技術(shù)使得電鏡研究由靜態(tài)發(fā)展到了動(dòng)態(tài)、實(shí)時(shí)的觀察，可施加熱、力、電、磁、氣氛等多種外場，模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境，極大的拓展了電鏡的功能，在諸如生物分子、納米材料、催化反應(yīng)、電化學(xué)、力學(xué)等研究領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景和獨(dú)特的價(jià)值。但是原位應(yīng)用中的外場環(huán)境對觀測和分析造成了很大影響，阻礙了原位應(yīng)用的普及，所幸經(jīng)過長期探索，很多老師開發(fā)出了新工具、新方法，成功解決了部分問題，并取得了很好的科研成果。

       為推動(dòng)原位技術(shù)的普及，TESCAN公司于2020年7月23-24日舉辦微束分析原位技術(shù)應(yīng)用論壇（線上），邀請業(yè)內(nèi)多位原位科研的老師分享他們的經(jīng)驗(yàn)和成果。我們在獲得主講人同意后，在此分享會(huì)上的部分視頻和資料。


報(bào)告和主講人介紹
報(bào)告視頻
論文和報(bào)導(dǎo)

《基于掃描電鏡的原位高溫力學(xué)實(shí)驗(yàn)研究進(jìn)展》

報(bào)告簡介


         傳統(tǒng)的材料高溫力學(xué)實(shí)驗(yàn)研究模式中，其高溫力學(xué)性能測試與顯微結(jié)構(gòu)研究分別獨(dú)立進(jìn)行，難以獲得動(dòng)態(tài)力學(xué)行為與對應(yīng)實(shí)時(shí)微觀組織結(jié)構(gòu)演化信息。掃描電鏡（SEM）是對材料進(jìn)行微觀組織結(jié)構(gòu)分析的主要科學(xué)儀器之一，SEM具有較大的樣品室，將傳統(tǒng)的高溫力學(xué)測試儀器小型化并于掃描電鏡集成，可以實(shí)現(xiàn)材料性能測試與相應(yīng)顯微結(jié)構(gòu)的同步關(guān)聯(lián)性研究。但是在800 ℃以上高溫力學(xué)測試時(shí)，樣品表面大量熱電子溢出使得SEM二次電子探測器使接收信號(hào)飽而難以成像。報(bào)告將介紹最新的發(fā)展的1200℃高溫-力學(xué)性能-成像三位一體測試技術(shù)和在高溫合金中的應(yīng)用進(jìn)展。


張躍飛.JPG主講人　張躍飛


北京工業(yè)大學(xué)固體微結(jié)構(gòu)與性能研究所研究員，北京市長城學(xué)者，博士生導(dǎo)師。長期從事原位電子顯微學(xué)原理、方法和儀器的研制及應(yīng)用基礎(chǔ)研究，研制出的1200℃掃描電鏡原位高溫力學(xué)測試儀器系統(tǒng)，大大拓展了SEM原位分析測試能力。近年來先后主持和參加完成“973”“863”和科技部重大科學(xué)儀器專項(xiàng)，國家自然科技基金和北京市自然科學(xué)基金10余項(xiàng)項(xiàng)目。在國內(nèi)外重要學(xué)術(shù)期刊發(fā)表論文140余篇，引用超過3000多次，授權(quán)中國發(fā)明專利22項(xiàng)，實(shí)現(xiàn)專利成果轉(zhuǎn)化3項(xiàng)。分別獲2016年北京市科學(xué)技術(shù)一等獎(jiǎng)（排名第3），北京市優(yōu)秀博士論文獎(jiǎng)和全國優(yōu)秀博士論文提名獎(jiǎng)等。目前主要從事原位高溫掃描電子顯微學(xué)和高溫合金微觀結(jié)構(gòu)與性能研究。


單位介紹：

北京工業(yè)大學(xué)固體微結(jié)構(gòu)與性能研究所，是中國科學(xué)院張澤院士牽頭于2003年成立，是以固體材料的微結(jié)構(gòu)表征，揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)，并探索其性能關(guān)系為主要研究內(nèi)容的跨學(xué)科綜合研究所，集科學(xué)研究和研究生教育于一體，是北京工業(yè)大學(xué)材料與制造學(xué)部重點(diǎn)科研單位。