TESCAN TENSOR 一款專用分析型4D-STEM

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發(fā)表時(shí)間:2024-07-14 15:22

TESCAN TENSOR 4D-STEM四維掃描透射電子顯微鏡的創(chuàng)新集成設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了傳統(tǒng)STEM與4D-STEM數(shù)據(jù)的同步采集,結(jié)合先進(jìn)的能譜技術(shù),為材料科學(xué)領(lǐng)域提供了一款全新體驗(yàn)的分析工具。


4D-STEM 測(cè)量的性能、易用性以及因此而收到影響的可用性,歷來受到現(xiàn)有(掃描)透射電鏡鏡筒缺乏4D-STEM組件集成的制約,這些鏡筒最初就并非為此目的而設(shè)計(jì)。而TESCAN TENSOR則不同,它能同步獲取傳統(tǒng)STEM、4D-STEM信息,還有能譜信息,與強(qiáng)大的軟件解決方案相結(jié)合,意味著它是一款分析型4D-STEM顯微鏡。

什么是分析型4D-STEM?


類型

獲取信息

傳統(tǒng)的STEM

4D-STEM

分析型 4D-STEM TENSOR

2D ROISTEM斷層掃描相

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2D
倒易空間信息 - 電子衍射花樣


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EDS能譜圖象


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應(yīng)用于:功能材料、薄膜、合成或天然的納米晶表征


分析型4D-STEM:更全面的獲取電子束與樣品相互作用的全部信息

4D-STEM是真正實(shí)現(xiàn)多模態(tài)表征納米級(jí)材料的特性(如形態(tài)、化學(xué)和結(jié)構(gòu))的顯微技術(shù)。在STEM數(shù)據(jù)集中的每個(gè)像素上,TESCAN TENSOR 都可以快速且完美同步地獲得衍射花樣和能譜圖,衍射花樣和能譜數(shù)據(jù)揭示了電子束與樣品相互作用的全部信息,從而更廣泛地獲取材料特性。

TESCAN TENSOR用戶界面的截圖,衍射花樣的采集,結(jié)合數(shù)據(jù)的分析和處理, 產(chǎn)生接近實(shí)時(shí)的取向圖和相圖體驗(yàn)。


綜合測(cè)量 強(qiáng)大分析

測(cè)量:STEM成像(BF、ADF、HAADF)、STEM 晶格成像、元素分析與分布、物相和取向分布、應(yīng)力測(cè)量、3D斷層成像(STEM、EDS、ED)

分析:ACOM和應(yīng)力分析—用于分析和可視化晶界和應(yīng)力測(cè)定;虛擬STEM—用于通過4D-STEM數(shù)據(jù)集分析和可視化虛擬STEM圖象;3D圖象和分析—用于重構(gòu)和可視化三維形態(tài)和元素分布;PETS Advanced 軟件—用于分析和重建旋進(jìn)電子衍射斷層成像

拓展:開放數(shù)據(jù)集,可連接外數(shù)據(jù)分析處理平臺(tái);外平臺(tái)舉例:HyperSpy, LiberTEM, Py4DTEM。


差異化獨(dú)特性能 先進(jìn)技術(shù)與組件

超快且精準(zhǔn)地 同步獲取數(shù)據(jù)

TESCAN TENSOR 這款4D-STEM能夠超快且精確的同步完成直接電子衍射成像、能譜(EDS)采集、電子束、電子束閘以及采集數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)分析和處理。

通過集成當(dāng)前最先進(jìn)的技術(shù)和組件來實(shí)現(xiàn):

混合像素的直接電子衍射相機(jī)(DED)

近超高真空的樣品區(qū)域

旋進(jìn)電子衍射(PED)

快速、集成電子束閘

大立體角、對(duì)稱、無窗能譜

實(shí)時(shí)4D-STEM分析和處理軟件(Explore)

4D-STEM 數(shù)據(jù)
實(shí)時(shí)分析和處理

TESCAN TENSOR具有真正獨(dú)特的功能是Explore,它是TENSOR的集成平臺(tái),用于大規(guī)模掃描衍射花樣數(shù)據(jù)集的(近)實(shí)時(shí)處理和分析。Explore可以協(xié)助材料科學(xué)家、半導(dǎo)體科研人員和失效分析工程師以及晶體學(xué)家實(shí)現(xiàn)4D-STEM測(cè)量功能,不要求其具備STEM光學(xué)或4D-STEM數(shù)據(jù)分析和后處理的專業(yè)知識(shí)。


一臺(tái)像掃描電鏡一樣 易于使用的STEM

“開箱即用”像按按鈕一樣簡(jiǎn)單

科學(xué)家、工程師、技術(shù)人員或是學(xué)生們,都一直想要一種能輕松使用的TEM解決方案,它可以在不需要數(shù)周或數(shù)月的復(fù)雜電子光路調(diào)整和校準(zhǔn)培訓(xùn)的情況下輕松使用。

TESCAN TENSOR 讓您將時(shí)間花在如何表征樣品,而不是在光路調(diào)試上。它具備測(cè)量所需的光學(xué)特性預(yù)設(shè),如光束電流、會(huì)聚角、光斑大小和旋進(jìn)開關(guān),自動(dòng)進(jìn)行光學(xué)調(diào)整和對(duì)準(zhǔn)。

所以,這是一臺(tái)像TESCAN掃描電鏡一樣易于使用的分析型4D-STEM,一切以結(jié)果為導(dǎo)向,具備電子顯微鏡的所有優(yōu)點(diǎn)和效率。這也意味著潛藏的經(jīng)濟(jì)效益,例如新手或新用戶可快速上手高效使用設(shè)備,設(shè)備利用率提高了,投資回報(bào)也就更快。