日程 One Two Three Four Five Six |
日程安排：
11月30日 | Part 1 9:00 - 9:45 | 楊平 教授 北京科技大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院 《EBSD技術(shù)應(yīng)用交流》 |
Part 2 9:45 - 10:35 | 李云婷 上海交通大學(xué)分測中心 《掃描電鏡TKD技術(shù)及應(yīng)用》 | |
Part 3 10:35 - 11:25 | 施奇?zhèn)?博士 上海交通大學(xué) 《高分辨率EBSD標(biāo)定算法研究》 | |
12月1日 | Part 4 9:00 - 9:50 | 黃天林 副主任 重慶大學(xué)電子顯微鏡中心 《超大塑性變形金屬的取向表征技術(shù)與應(yīng)用》 |
Part 5 9:50 - 10:40 | 李傳維 副教授 《原位EBSD方法及其在金屬材料變形機(jī)制研究中的應(yīng)用》 | |
Part 6 10:40 - 11:15 | 李景 TESCAN資深應(yīng)用工程師 《TESCAN掃描電鏡如何助力EBSD前沿應(yīng)用》 |
楊平 教授
北京科技大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院
《EBSD技術(shù)應(yīng)用交流》
北京科技大學(xué)終身教授，鼎新學(xué)者，北京市教學(xué)名師。研究方向?yàn)榻饘俨牧闲巫?、再結(jié)晶、相變過程的晶體學(xué)行為及織構(gòu)控制技術(shù)，擅長使用電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)。
發(fā)表論文420余篇，獲發(fā)明專利4項(xiàng)，獲省部級科研成果一等獎(jiǎng)、三等獎(jiǎng)各1項(xiàng)，編著《電子背散射衍射技術(shù)及其應(yīng)用》、《材料織構(gòu)分析原理與檢測技術(shù)》、《電工鋼的材料學(xué)原理》等。獲北京市教學(xué)成果一等獎(jiǎng)1項(xiàng)和二等獎(jiǎng)2項(xiàng)。
本期報(bào)告將展示：
更高空間分辨的TKD方法
李云婷
上海交通大學(xué)分測中心
《掃描電鏡TKD技術(shù)及應(yīng)用》
畢業(yè)于北京科技大學(xué)材料科學(xué)與工程專業(yè)，任職于上海交通大學(xué)分析測試中心，從事掃描電子顯微學(xué)分析工作。擅長EBSD和TKD測試分析，以及EBSD樣品制備。
施奇?zhèn)?博士
上海交通大學(xué)講師
《高分辨率EBSD標(biāo)定算法研究》
巴黎薩克雷大學(xué)工科博士畢業(yè)，主講電路基礎(chǔ)、信號學(xué)、流體力學(xué)等課程，研究方向?yàn)閿?shù)字圖像相關(guān)(DIC)，電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)的開發(fā)和晶體塑性模擬，在《Ultramicroscopy》《Mater. Charact.》《Meas. Sci. & Technol.》等期刊發(fā)表論文20余篇。
黃天林 副主任
重慶大學(xué)電子顯微鏡中心
《超大塑性變形金屬的取向表征技術(shù)與應(yīng)用》
重慶大學(xué)教授，博導(dǎo)，重慶超瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)裝置超瞬態(tài)電鏡中心主任。主要研究方向?yàn)樵瓌?chuàng)先進(jìn)電子顯微分析技術(shù)開發(fā)和金屬材料超細(xì)晶結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、表征與力學(xué)性能研究。參與成功研制了世界首套具有三維晶體學(xué)重構(gòu)和三維衍襯像重構(gòu)功能的透射電鏡，原創(chuàng)開發(fā)了多項(xiàng)金屬材料多維多尺度表征技術(shù)。主持了國家自然科學(xué)基金面上項(xiàng)目、國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃課題等國家項(xiàng)目。在包括Nature、Acta Materialia等的期刊發(fā)表學(xué)術(shù)論文近50篇，獲權(quán)/申請發(fā)明專利10余項(xiàng)。
(由于涉及未公開論文成果，故不在此發(fā)布視頻）
1
李傳維 副教授
《高分辨率EBSD標(biāo)定算法研究》
2016年畢業(yè)于上海交通大學(xué)，主要從事大型鍛件熱處理及數(shù)值模擬、原位電子顯微學(xué)等領(lǐng)域相關(guān)研究。發(fā)表論文30余篇，獲國家發(fā)明專利2項(xiàng)，上海市科技進(jìn)步二等獎(jiǎng)1項(xiàng)。
好的EBSD成果也得益于掃描電鏡這個(gè)載體，TESCAN的掃描電鏡針對EBSD的分析也有很多特殊的設(shè)計(jì)。我們的應(yīng)用人員也會(huì)為大家分享TESCAN電鏡在EBSD領(lǐng)域的優(yōu)勢和一些使用技巧。
李景
TESCAN資深應(yīng)用工程師
《TESCAN掃描電鏡如何助力EBSD前沿應(yīng)用》
|
|