第二場研討會|TESCAN VEGA系列和MIRA系列掃描電鏡高效分析工作流程

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發(fā)表時(shí)間：2021-03-10 11:09

主題：Efficient Analytical Workflows with TESCAN's VEGA and MIRA SEMs

演講者： Petr Klimek

Petr Klímek 是TESCAN 公司SEM產(chǎn)品經(jīng)理，有多年的掃描電鏡操作和應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)。他在布爾諾的孟德爾大學(xué)（Mendel University）獲得了材料學(xué)博士學(xué)位，有在Fraunhofer WKI和俄勒岡州立大學(xué)（Fulbright Scholar）的實(shí)習(xí)經(jīng)歷。

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時(shí)間段1： 3月10日, 下午4:00 – 5:00 （北京時(shí)間）

時(shí)間段2：3月11日, 上午2:00 – 3:00（北京時(shí)間）

對樣品感興趣區(qū)域進(jìn)行表征、分析材料組成、構(gòu)建微觀尺度和宏觀尺度之間的關(guān)系----這些都是可以通過掃描電子顯微鏡微觀分析解決的常見問題。

由于樣品的類型、大小、形狀以及各自的制備方法往往不同，因此使用掃描電鏡是獲取表征數(shù)據(jù)的最佳選擇。最常見的掃描電鏡工作流程包括三個(gè)步驟：導(dǎo)航、尋找樣品特征點(diǎn)(SE/BSE)和進(jìn)行元素分析(EDS)。該工作流程可以輕松高效地處理各類樣品，并提供高分辨、高質(zhì)量的圖像----這是可以成功且高效完成材料研發(fā)的關(guān)鍵因素之一。

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TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡系列

TESCAN的VEGA系列和MIRA系列掃描電鏡的設(shè)計(jì)理念就是使得用戶能夠通過該工作流程直觀、高效地完成對掃描電鏡的操作。在本次研討會中，我們將為您展示TESCAN第四代鎢燈絲掃描電鏡VEGA系列和場發(fā)射掃描電鏡MIRA系列的新功能----如何更直觀、高效的執(zhí)行常規(guī)的分析工作流程，所有用戶甚至是初次接觸電鏡的人員，都可以通過這個(gè)工作流程獲得全面的數(shù)據(jù)。