標(biāo)簽?zāi)K
副標(biāo)題
 SE探頭，5KV看到淺層電路，30KV看到深層電路，兩個(gè)圖像一目了然，可是為什么SE探頭可以看到深層電路呢？ |
 “TESCAN電鏡學(xué)堂”又跟大家見(jiàn)面了，利用掃描電鏡觀察樣品時(shí)會(huì)關(guān)注分辨率、襯度、景深、形貌的真實(shí)性、其他分析的需要等等，不同的關(guān)注點(diǎn)之間需要不同的拍攝條件，有時(shí)甚至相互矛盾。今天主要談一談如何根據(jù)樣品類型以及所關(guān)注的問(wèn)題選擇合適的加速電壓？ |
 電鏡的工作條件包括很多，加速電壓、束流束斑、工作距離、光闌大小、明暗對(duì)比度、探測(cè)器的選擇等。本期將為大家介紹工作距離的影響。 |
 關(guān)注分辨率、襯度、景深、形貌的真實(shí)性、其它分析的需要等等，不同的關(guān)注點(diǎn)之間需要不同的電鏡條件，有時(shí)甚至相互矛盾。因此我們必須明確拍攝目的，尋找最適合的電鏡條件，而不是貿(mào)然的追求大倍數(shù)。 |
 利用掃描電鏡觀察樣品時(shí)會(huì)關(guān)注分辨率、襯度、景深、形貌的真實(shí)性、其他分析的需要等等，不同的關(guān)注點(diǎn)之間需要不同的拍攝條件，有時(shí)甚至相互矛盾。那我們?cè)撊绾胃鶕?jù)樣品類型以及所關(guān)注的問(wèn)題選擇合適的電鏡條件呢？ |
 EBSD已經(jīng)逐漸成為晶體材料研究中常用的測(cè)試手段，利用其分析微觀取向、織構(gòu)、晶界，應(yīng)力等信息。在EBSD測(cè)試的時(shí)候經(jīng)常遇到樣品放入電鏡中剛開(kāi)始飄的很厲害的問(wèn)題，那么究竟是什么原因呢，要怎么解決呢？我們常采用的制樣方法是利用碳導(dǎo)電膠將樣品固定... |
 在電鏡的應(yīng)用中，經(jīng)常需要計(jì)算特定對(duì)象的面積。以雙相鋼樣品為例，第二相的面積、形態(tài)對(duì)雙相鋼的性能有著至關(guān)重要的影響。除了光鏡以外，掃描電鏡也是研究雙相鋼的組織形態(tài)的一個(gè)重要工具。一般來(lái)說(shuō)，不同的相在掃描電鏡下的襯度是不同的。T... |
 在使用掃描電鏡過(guò)程中，您是不是經(jīng)常會(huì)遇到這樣的困擾？SEM成像時(shí)多采用的是二次電子或者背散射電子，獲取的圖像都是二維圖像，但是對(duì)于表面不平整的樣品我們很難用二維圖像直觀地表現(xiàn)出樣品的真實(shí)形貌。比如表面凹凸不平、充滿孔洞的陶瓷骨架樣品，我們?nèi)?.. |
 我們大家都知道，掃描電鏡對(duì)于待觀測(cè)的樣品要求往往比較嚴(yán)苛，比如要求樣品有盡可能好的導(dǎo)電性，否則會(huì)引起荷電現(xiàn)象；還要求樣品有較好的導(dǎo)熱性，否則易形成輻照損傷；如果要進(jìn)行EDS/WDS等元素定量檢測(cè)，還需要樣品表面盡可能平整。我們通常接觸到的掃... |
 要獲得一副優(yōu)秀的電鏡圖片，除了有明確的主題思想，還需要根據(jù)主題思想的要求，運(yùn)用畫(huà)面的布局和結(jié)構(gòu)，組成一定的畫(huà)面，使... |
 用肉眼看，似乎這臺(tái)電子顯微鏡的金屬鏡筒安安穩(wěn)穩(wěn)地靜立在桌子上，但在鏡筒內(nèi)由于地鐵開(kāi)過(guò)產(chǎn)生的震動(dòng)和磁場(chǎng)影響，樣品相對(duì)電子束的位置已經(jīng)悄然發(fā)生了變化。觀察顯示屏上的圖像，發(fā)現(xiàn)似乎長(zhǎng)出了“毛刺”，原來(lái)纖毫畢現(xiàn)的納米級(jí)分辨率圖像已變得模糊不清。 |
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